Elektronenmikroskope

JEOL ARM 200 F

Analytisches hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop mit Cs-Korrektor

Beschleunigungsspannung 60, 80 & 200 kV
Elektronenquelle kalte Feldemission
Auflösung TEM Informationslimit: 0,10 nm
TEM Punktauflösung: 0,19 nm
STEM: 0,08nm
Vergrößerung TEM Modus: 50x bis 2.000.000x
STEM Modus: 200x bis 15.000.000x
Halter Probenhalter mit Retainer-System
Stabilisierter Be-Doppelkipphalter
Fischione Model 2050 Tomographiehalter
Mel-Build Doppelkipp-Tomographiehalter
In-situ Halter DENSsolution Lightning
Kamera Gatan OneView (4k x 4k) CMOS Kamera
DigitalMicrograph
Detektor Energie-disperisver Röntgendetektor Jeol EDX Centurio
Thermo Fisher Scientific Mikroanalysesystem Pathfinder
Korrektor UHR STEM Cs-Korrektor Ascor
JEOL JEM-2100F
Analytisches Transmissionselektronenmikroskop

Beschleunigungsspannung 80, 160 & 200 kV
Elektronenquelle ZrO/W(100) Schottky Emitter
Auflösung TEM Informationslimit: 0,10 nm
TEM Punktauflösung: 0,19 nm
STEM: 0,14 nm
Vergrößerung TEM Modus: 2.000x bis 1.500.000x
STEM: 200x bis 15.000.000x
Halter Jeol Einzelkipp- und Be-Doppelkipp-Analytikhalter
Jeol Fe-Doppelkipphalter
Tomographiehalter
In-Situ TEM Heizhalter von Gatan
In-situ Halter DENSsolution Lightning
Kamera Gatan UltraScan 4000 (4k x 4k) CCD-Kamera
DigitalMicrograph
Detektor Jeol EDS-System JED-2300

Förderung

Das "Applikationslabor Elektronentomographie" wird aus dem Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung (EFRE) der Europäischen Union und vom Land Berlin gefördert (Projekt-Nr. 2016011843).


Ihr Ansprechpartner

Dr. Achim Trampert Foto
  • Dr. Achim Trampert
  • trampert(at)pdi-berlin.de
  • +49 (0)30 20377-280
  • Raum 615
  • Hausvogteiplatz 5 - 7
    10117 Berlin
    Germany
  • Projektleiter

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